有的紫外可見分光光度計只測試220nm處的雜散光，不測試340nm處的雜散光,，這樣是不正確的,，需測試220nm處雜散光是因為：

①根據(jù)量子光學理論,，波長是能量的倒數(shù),，波長短能量大，容易產生雜散光,，而220nm處屬于短波部分,；

②根據(jù)儀器學理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小,，即信號很小,，容易顯現(xiàn)雜散光；

③根據(jù)儀器學理論中的光電發(fā)射理論,，光電倍增管在220nm處的光譜響應（靈敏度）低,，容易顯現(xiàn)雜散光。而測試340nm處雜散光的原因是完全不同的,，因為340nm處一般是氘燈換鎢燈和儀器調換濾光片的地方,，此時*容易產生雜散光。所以,，對于紫外可見分光光度計來講,，應該測試220nm和340nm兩處的雜散光。

1,、首先將參比液注入配對石英石吸收池,，分別放置在參比池座和試樣池座內。再測定波段掃描基線并使之平滑,。
2,、將減光片插入試樣光路的濾光片槽內，其讀數(shù)即為減光片的衰減值K,，然后將減光片插入?yún)⒈裙饴返臑V光片座內。
3,、將石英吸收池中的蒸餾水依次換成上述截止濾光液,，插入試樣試樣池座中，在相應的波段內掃描,、打?。辉谟涗浖埖淖鳂松狭咳y定波長處的透光度,，乘以衰減值K,，即得各測定波長處的雜散光值。